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  • ME 标準精密天平 METTLER TOLEDO

    ME精密天平量程高(gāo)達4200g,可讀(dú)性為(wèi)1mg/0.01g,采用人體工(gōng)程學設計使這些質量入門(mén)級天平的日常常規稱量輕松高(gāo)效。

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    更新日期:2023-03-01
  • XPR 微量分析天平 METTLER TOLEDO

    XPR微量分析天平的可讀(dú)性範圍為(wèi)0.001mg至0.01mg,大量程為(wèi)52g,可滿足對于微量分析稱量的所有要求。 XPR微量分析天平非常适合在各種大小(xiǎo)的實驗室器(qì)皿中準确稱量較小(xiǎo)量的珍貴樣品。*的準确性和極低(dī)的小(xiǎo)稱量值可使您稱量很少量的樣品,從(cóng)而節省大量材料與降低(dī)成本。

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  • 超越系列XSR精密天平 METTLER TOLEDO

    XSR精密天平的可讀(dú)性範圍為(wèi)1mg至1g,量程為(wèi)310g 至32kg。如果樣品處理量大和時間緊是您在實驗室内面對的主要挑戰,那麽 XSR精密天平是您的理想之選。它們的設計與功能(néng)可确保在較短的時間内提供一(yī)緻的稱量結果。

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  • 超越系列XPR精密天平 METTLER TOLEDO

    XPR精密天平的可讀(dú)性範圍為(wèi) 0.1mg至1g,量程為(wèi)200g至64kg。 即使在較惡劣的稱量條件(jiàn)下(xià), XPR精密天平也可提供較準确的稱量結果。 創新型 SmartPan™ 易巧秤盤可較大限度減小(xiǎo)氣流對稱量單元的影響,在标準條件(jiàn)下(xià),甚至可使用無防風罩的1mg天平。

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  • PL-E 便攜式天平 METTLER TOLEDO

    ME分析天平量程高(gāo)達8200g,可讀(dú)性為(wèi)0.01g/0.1g,随時随地實現可靠稱量,适應性強、設計緊湊輕便,是您在有限空間内獲得準确結果的理想解決方案。

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  • MS-TS 高(gāo)級精密天平 METTLER TOLEDO

    MS-TS精密天平量程為(wèi)320g至12.2kg,可讀(dú)性為(wèi)1mg至100mg, MS-TS精密天平具有堅固的結構,因此可成為(wèi)在實驗室或工(gōng)廠車間完成繁重任務的完美之選。

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